Absolutní měření vzdálenosti s přesností nanometrů, založené na technologii MWLI® (interferometrie multi-vlnových délek). Tato unikátní technologie poskytuje nanometrickou přesnost i při velké pracovní vzdálenosti a pracovním rozsahu a dále umožňuje absolutní určování polohy v rozsahu 1 mm.

Taylor Hobson představil nový LuphoScan 260HD a posunul přesné měření optických ploch na vyšší úroveň.

Bezkontaktní, optický měřicí systém pro rychlé 3D měření kruhovitosti, přímosti, rovnoběžnosti, kuželovitosti, drsnosti a průměru, to vše z jediného skenu povrchu.

LUPHOScan 50 SL je ideální pro 3D kontrolu velkosériové výroby malých čoček, přičemž mezi hlavní výhody systému patří ultra rychlé měření a schopnost měřit geometrické vlastnosti čoček. Dokáže měřit optický povrch a geometrické vlastnosti, jako je kruhovitost mezikruží povrchu, rovinnost plochého povrchu čočky a umístění optického povrchu vůči těmto vlastnostem. A to nejrychleji na světě!