Form Talysurf® PGI Optics PRO

Form Talysurf® PGI Optics PRO: Páteř moderní optické výroby. Nejrychlejší a nejpřesnější kontaktní měřicí systém pro precizní optiku. Změřte sférické, asférické, difrakční i Fresnelovy čočky o průměru až 300 mm v jediném tahu – bez nutnosti skládání dat (stitching). Díky patentované technologii PGI (Phase Grating Interferometer) a softwaru Metrology 4.0 získáte absolutní kontrolu nad výrobou IR optiky, optických substrátů i zrcadel.

Produkt




























Odborný pohled metrologa: Zapomeňte na zdlouhavé seřizování!
Víte, kolik strojního času ztratíte při nastavování diamantového nástroje? Software Metrology 4.0 nabízí unikátní řešení pro rychlé nastavení (Rapid diamond tool setup). V jednom jediném kroku získáte korekci X-offsetu, poloměru i chyby tvaru. Zkrátíte prostoje na minimum a dramaticky zvýšíte propustnost vaší výroby.

Patentovaná technologie PGI: Velký rozsah (SAG) s krátkým raménkem. Srdcem systému je patentovaná technologie fázového mřížkového interferometru (PGI). Ta vám umožňuje měřit čočky s obrovským převýšením (SAG) pomocí velmi krátkých snímačů. Výsledek? Extrémní tuhost systému a minimální přítlačná síla, což zaručuje přesnost a opakovatelnost, které se konkurence nevyrovná.

Nový Freeform modul: 3D mapování budoucnosti. Výroba optiky se posouvá a komplexní tvary jsou nutností. Nový plně automatizovaný Freeform modul přináší 3D rastrové měření a hloubkovou analýzu volných tvarů (freeform). Zkrácení cyklových časů díky automatickým rutinám. Nativní práce se standardními rovnicemi pro tvary jako Toric, Bi-conic, Ellipsoid, A-Cylinder nebo Anamorphic asphere. Generování 3D map pro analýzu nesymetrických chyb (astigmatismus, trefoil).
Vylepšený PGI snímač pro choulostivé povrchy. Systém je vybaven inovovaným PGI snímačem, který chrání vaše nejcennější díly. Nízká a nastavitelná přítlačná síla - bezpečné měření měkkých povrchů a čoček s velkým SAG. Automatický zvedáček snímače (Lift/Lower) - ideální pro přerušované povrchy, jako jsou prstencová zrcadla. Oboustranný snímač (Dual bias) - schopnost měřit horní i spodní povrchy.

Klíčové vlastnosti:

  • Měření do 300 mm (Single trace) - žádné nepřesnosti ze skládání dat (stitching), rychlejší kontrola
  • Asfero-difrakční a Fresnelova analýza - hloubkové vyhodnocení i těch nejsložitějších optických profilů
  • Reverzní inženýrství - jedním kliknutím odvodíte asférické a difrakční koeficienty z neznámého kusu
  • Astigmatismus a trefoil - zápis více tras pro tvorbu 3D mapy a detekci nesymetrických chyb
  • Podpora motorizovaných os (Y/Rotační) - plná automatizace měření a zvýšení konzistence napříč dávkou

Technické specifikace:

Parametr snímače 10 mm snímač 15 mm snímač 20 mm snímač
Rozsah měření v Z (dle modelu) 10 mm 15 mm 20 mm
Rozlišení (dle modelu) 0,2 nm
Poměr rozsah : rozlišení 50 000 000 : 1 75 000 000 : 1 104 000 000 : 1
Systémový šum (Rq / Rz) < 2 nm / < 10 nm
Nejistota tvaru (Pt) < 100 nm (typ. ~60 nm)

stáhnout dokumentaci v pdf stáhnout specifikace v pdf